| 发明名称 | 用于测量电子器件参数的方法及设备 | ||
| 摘要 | 利用衬底与SOI器件的漏极之间的固有电容作为电路的部分。衬底与引到芯片外部的传感针连接，并与其它电气元件形成环路，形成包括衬底与漏极之间的固有电容的电路，该电路利用衬底与漏极之间的电容运行。 | ||
| 申请公布号 | CN1240140C | 申请公布日期 | 2006.02.01 |
| 申请号 | CN01802316.9 | 申请日期 | 2001.07.20 |
| 申请人 | 皇家菲利浦电子有限公司 | 发明人 | L·布尔迪永 |
| 分类号 | H01L29/786(2006.01);H01L27/07(2006.01) | 主分类号 | H01L29/786(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 王岳;陈霁 |
| 主权项 | 1.一种电子器件，具有源极(204)、栅极(205)和漏极(206)，所述电子器件位于衬底(201)上并且在衬底与所述源极(204)或所述漏极(206)或所述栅极(205)之间具有一个电容量，所述电子器件和衬底在具有外部针的芯片内，所述外部针包括一个外部传感针(406)，所述衬底与用于从所述电容量测量一个电流的所述外部传感针(406)电连接，所述衬底不与所述源极连接。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||