| 发明名称 | 一种集成电路的仿真方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种集成电路的仿真方法，以解决现有技术中存在仿真效率低的问题。所述方法为：根据集成电路的仿真模型接口参数判断该集成电路的接口模型电路是否已进行归一化处理，如果是则由仿真程序产生激励源信号，并调用符合归一化处理类型的接口模型电路进行仿真；否则根据包含信号数量和信号流向的仿真模型接口参数产生符合归一化处理的接口模型电路；然后由仿真程序产生激励源信号，并调用符合归一化处理类型的接口模型电路进行仿真。 | ||
| 申请公布号 | CN1728103A | 申请公布日期 | 2006.02.01 |
| 申请号 | CN200410054866.7 | 申请日期 | 2004.07.31 |
| 申请人 | 华为技术有限公司 | 发明人 | 厉进军 |
| 分类号 | G06F11/26(2006.01) | 主分类号 | G06F11/26(2006.01) |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 1、一种集成电路的仿真方法，其特征在于包括步骤：A、根据集成电路的仿真模型接口参数判断该集成电路的接口模型电路是否已进行归一化处理，如果是则进行步骤C，否则进行步骤B；B、根据包含信号数量和信号流向的仿真模型接口参数产生符合归一化处理的接口模型电路；C、由仿真程序产生激励源信号，并调用符合归一化处理类型的接口模型电路进行仿真。 | ||
| 地址 | 518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 | ||