首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
Verfahren zur Datenabfrage bei der Implantatsnachsorge
摘要
申请公布号
DE50011730(D1)
申请公布日期
2006.01.05
申请号
DE20005011730
申请日期
2000.06.23
申请人
BIOTRONIK MES- UND THERAPIEGERAETE GMBH & CO. INGENIEURBUERO BERLIN
发明人
KRAUS, MICHAEL;LANG, MARTIN;LANG, BERNHARD;NEUDECKER, JOHANNES;BEETZ, KLEMENS;NAGELSCHMIDT, AXEL;POTSCHADTKE, JENS
分类号
A61B5/00;A61B5/0255;A61N1/372
主分类号
A61B5/00
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
A network device and a method for networking
Novel Protein and Process for Producing The Same
Mitochondrial aldehyde dehydrogenase-2 modulators and methods of use thereof
Centraliser
Method for dot printing on cards
Drill hole orientation apparatus
Method and kit for cancer diagnosis
Method of treating obesity using antioxidant inflammation modulators
Mounting means
A container assembly and a cap assembly for a container
A dispensing device for an inclined shelving bottom magazine
Improvements relating to centrifugal pump impellers
Heading Headband Squeaker & Shock Absorber Training Aid
SELF-PROPEL ACCESSORY
Turntable assembly for stretch wrapping machine
Enhanced anti-influenza agents conjugated with anti-inflammatory activity
Housing and method of making same
Interactive Advisory System
WIND-RESISTANT SUN-PROOF BLIND
低分子量生成物、及びディールス−アルダー反応の際の可逆的又は永久的な低温架橋剤としてのそれらの使用