发明名称 具有非易失存储器模块的电路装置和用于记录非易失存储器模块上的光冲击的方法
摘要 为了进一步发展一种用于电子数据通信的电路装置(100),其包括用于存储数据的至少一个非易失存储器模块(10),和与存储器模块(10)相关联的至少一个接口逻辑(20),其用于为存储器模块(10)寻址,或者用于向存储器模块(10)写入数据或用于从存储器模块(10)读取数据;以及一种用于记录非易失存储器模块(10)上的光冲击的相关方法,这样,首先,不论针对存储器模块(10)的访问,特别是读访问,是否正在发生,光冲击立即且可靠地被识别,其次,就此而言,尽可能均匀地覆盖了存储器模块(10)的完整的地址空间,提出了,提供用于监视存储器模块(10)的监视装置(22)与接口逻辑(20)相关联,借助于该监视装置(22),至少一个光源对存储器模块(10)的辐射[所谓的“光冲击”]可以在测试模式(T)中被检测和/或记录和/或传送信令,其中不发生针对存储器模块(10)的写或读访问。
申请公布号 CN1714408A 申请公布日期 2005.12.28
申请号 CN200380103955.X 申请日期 2003.11.13
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 J·C·H·加贝;W·布尔
分类号 G11C16/22;G06F12/14;G06F19/00 主分类号 G11C16/22
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 吴立明;刘杰
主权项 1.一种用于电子数据处理的电路装置(100),包括-用于存储数据的至少一个非易失存储器模块(10),和-与存储器模块(10)相关联的至少一个接口逻辑(20),其--用于寻址存储器模块(10),并且--用于向存储器模块(10)写入数据,或者--用于从存储器模块(10)读取数据,其特征在于,提供用于监视存储器模块(10)的至少一个监视装置(22)与接口逻辑(20)相关联,借助于该监视装置(22),至少一个光源对存储器模块(10)的辐射[所谓的“光冲击”]可以在测试模式(T)中被检测和/或记录和/或传送信令,其中不发生针对存储器模块(10)的写或读访问。
地址 荷兰艾恩德霍芬