发明名称 | 侦测异方性导电胶导电粒子变形量的方法和结构 | ||
摘要 | 一种侦测异方性导电胶导电粒子变形量的结构,包括一基板,其中基板上形成有复数个金属凸块,及复数个具有不同高度的标尺凸块位于基板上。藉此,基板与另一基板结合时,在黏合过程中具有高度超过两基板间之间隙之标尺凸块顶部产生挤压而变形,并以此判断两基板的黏合程度,及推得两基板间ACF之导电粒子的变形量。 | ||
申请公布号 | TW200540397 | 申请公布日期 | 2005.12.16 |
申请号 | TW093116519 | 申请日期 | 2004.06.09 |
申请人 | 友达光电股份有限公司 | 发明人 | 李俊右;郑炳钦 |
分类号 | G01B5/30;G01B5/14;H05K3/32 | 主分类号 | G01B5/30 |
代理机构 | 代理人 | 洪澄文;颜锦顺 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路1号 |