发明名称 | 检测容器颈环的表面缺陷或材料短缺的照射方法和装置 | ||
摘要 | 本发明涉及一种检测具有对称轴(X)的容器的瓶颈(3)上表面缺陷和/或未填满的瓶口的光学方法。本发明的方法包括以下步骤:采用入射光束照射容器瓶颈(3)的表面(s)并且采用线性扫描摄像机接受由容器瓶颈反射的光束,从而确定表面缺陷和/或未填满的瓶颈的存在。更具体的是,该方法包括:采用向位于容器对称轴(X)上会聚点会聚并具有可变直径(D)和/或可变宽度(E)的均匀光环(C),并且选择与照射容器瓶颈(3)所要求的预定平均入射角度(α)相关的会聚光环直径(D)给定值和/或与照射容器瓶颈(3)表面(s)宽度(L)相关的均匀光环宽度(E)给定值。 | ||
申请公布号 | CN1708683A | 申请公布日期 | 2005.12.14 |
申请号 | CN200380101952.2 | 申请日期 | 2003.10.24 |
申请人 | 蒂阿马公司 | 发明人 | O·科勒;M·勒孔特 |
分类号 | G01N21/90;G01N21/958 | 主分类号 | G01N21/90 |
代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 程伟;王刚 |
主权项 | 1、测定具有对称轴(X)容器(4)的颈环(3)上的表面缺陷和/或材料短缺的光学方法,该方法包括以下步骤:■采用入射光束照射容器(4)颈环(3)的表面(s),■通过线扫描摄像机(6)收集由容器颈环反射的光束从而确定表面缺陷和/或材料短缺的存在,其特征在于,它包括:■获得向位于容器对称轴(X)的会聚点(F)会聚并具有可变直径(D)和/或可变宽度(E)的均匀光环(C),■并且选择:●与照射容器(4)颈环(3)的表面(s)的所需平均入射角度(α)相关的会聚光环(C)直径(D)给定值,●和/或与照射容器(4)颈环(3)表面(s)的宽度(L)相关的均匀会聚光环(C)宽度(E)给定值。 | ||
地址 | 法国蒙特尼 |