发明名称 应用X射线的成套测试设备
摘要 用于在多个分析仪器上同时用X射线进行研究的成套测试设备,它包括一发散的X射线源(1)、用于将射线传输至各分析仪器(5)的各光路装置、以及各分析仪器的各装置,可供进行光谱、衍射和其他研究、物体内部结构成像、X射线曝光,等等。发散的X射线在作为一组弯曲光路的X射线“半”镜头(2)的各光路内被光路壁多次全外反射而被转变成传输至分析仪器(5)的准平行射线束(4),每一“半”镜头截获X射线源(1)的一部分发散射线(3)。本发明的成套测试设备可包括X射线“全”镜头(6),用于将射线聚焦在位于分析仪器(8)之一的输入部分的焦点区域(22)。
申请公布号 CN1230674C 申请公布日期 2005.12.07
申请号 CN00819946.9 申请日期 2000.08.07
申请人 姆拉丁·阿布比奇罗维奇·库马科夫 发明人 姆拉丁·阿布比奇罗维奇·库马科夫
分类号 G01N23/207;G21K1/06 主分类号 G01N23/207
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 张兰英
主权项 1.一种用于在多个分析仪器上同时用X射线频段的射线进行研究的成套测试设备,它包括一射线源、用于将射线传输至各分析仪器的各光路装置、以及各分析仪器的各装置,其特征在于:所述成套测试设备包括一作为射线源的发散X射线源,至少一个能将射线传输至分析仪器的光路装置由用作一组弯曲光路的X射线镜头构成,X射线在所述镜头内的各弯曲光路内被光路壁多次全外反射进而由所述镜头形成射线束,所述镜头是放置和制造成能够截获射线源的发散的X射线的一部分并能将其转变成准平行的射线束。
地址 俄罗斯莫斯科