发明名称 SYSTEM AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUITS
摘要
申请公布号 CA2564297(A1) 申请公布日期 2005.11.17
申请号 CA20052564297 申请日期 2005.05.02
申请人 DFT MICROSYSTEMS, INC. 发明人 LABERGE, SEBASTIEN;HAFED, MOHAMED M.;ROBERTS, GORDON W.;CHAN, ANTONIO H.;DUERDEN, GEOFFREY D.;PISHDAD, BARDIA;TAM, CLARENCE K. L.
分类号 G01R31/26;G01R1/04;G01R31/319 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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