发明名称 PERFILOMETRO OPTICO DE TECNOLOGIA DUAL (CONFOCAL E INTERFEROMETRICA) PARA LA INSPECCION Y MEDICION TRIDIMENSIONAL DE SUPERFICIES.
摘要 Comprende una fuente de luz (LED), unos divisores de haz (por lo menos uno es polarizante), y medios de generación de patrones de iluminación (microvisualizador LCOS) y objetivos microscópicos intercambiables que son objetivos convencionales con los que se pueden obtener imágenes confocales y objetivos interferométricos con los que se pueden obtener imágenes interferométricas. El microvisua1izador puede generar una secuencia de patrones de iluminación para obtener imágenes confocales o una apertura total de todos los píxeles de iluminación para obtener imágenes interferométricas. Presenta un diseño compacto que permite la medida rápida y sin contacto de la forma y la textura de todo tipo de superficies a escala micro y nanométrica, incluso en muestras estructuradas o estratificadas que contienen materiales diferentes.
申请公布号 ES2243129(A1) 申请公布日期 2005.11.16
申请号 ES20040001071 申请日期 2004.04.23
申请人 UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA 发明人 ARTIGAS PURSALS ROGER;LAGUARTA BERTRAN FERRAN;CADEVALL ARTIGUES CRISTINA
分类号 A61B3/12;G01B9/04;G01N21/47;G02B21/00;(IPC1-7):G01B11/30;G01B9/02 主分类号 A61B3/12
代理机构 代理人
主权项
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