发明名称 |
PERFILOMETRO OPTICO DE TECNOLOGIA DUAL (CONFOCAL E INTERFEROMETRICA) PARA LA INSPECCION Y MEDICION TRIDIMENSIONAL DE SUPERFICIES. |
摘要 |
Comprende una fuente de luz (LED), unos divisores de haz (por lo menos uno es polarizante), y medios de generación de patrones de iluminación (microvisualizador LCOS) y objetivos microscópicos intercambiables que son objetivos convencionales con los que se pueden obtener imágenes confocales y objetivos interferométricos con los que se pueden obtener imágenes interferométricas. El microvisua1izador puede generar una secuencia de patrones de iluminación para obtener imágenes confocales o una apertura total de todos los píxeles de iluminación para obtener imágenes interferométricas. Presenta un diseño compacto que permite la medida rápida y sin contacto de la forma y la textura de todo tipo de superficies a escala micro y nanométrica, incluso en muestras estructuradas o estratificadas que contienen materiales diferentes.
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申请公布号 |
ES2243129(A1) |
申请公布日期 |
2005.11.16 |
申请号 |
ES20040001071 |
申请日期 |
2004.04.23 |
申请人 |
UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA |
发明人 |
ARTIGAS PURSALS ROGER;LAGUARTA BERTRAN FERRAN;CADEVALL ARTIGUES CRISTINA |
分类号 |
A61B3/12;G01B9/04;G01N21/47;G02B21/00;(IPC1-7):G01B11/30;G01B9/02 |
主分类号 |
A61B3/12 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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