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发明名称
METHOD FOR MANAGING A TESTING WAFER
摘要
申请公布号
KR20050106189(A)
申请公布日期
2005.11.09
申请号
KR20040031278
申请日期
2004.05.04
申请人
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
发明人
CHOI, KWANG SEOK
分类号
H01L21/00;(IPC1-7):H01L21/00
主分类号
H01L21/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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