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Ein Mikroskop zur Untersuchung der Lebensdauer angeregter Zustände in einer Probe mit mindestens einer Lichtquelle, die Anregungslicht erzeugt, und mit mindestens einem Detektor, der von der Probe ausgehendes Detektionslicht empfängt, ist offenbart. Das Mikroskop ist dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle einen Halbleiterlaser beinhaltet, der gepulstes Anregungslicht emittiert, wobei eine Einstellvorrichtung zur Einstellung der Pulsrepetitionsrate auf die spezifischen Lebensdauereigenschaften der Probe vorgesehen ist.
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