发明名称 形成半导体器件的接触插塞的方法
摘要 在形成半导体器件的接触插塞的方法中,使用固相外延法形成外延硅以作为接触材料。与使用多晶硅作为接触材料的现有技术相比,该方法可获得减小的接触电阻和改进的刷新特性。此外,该方法使用了SPE法而不是传统的SEG法来形成外延硅,使得其能够通过低温工艺基本降低热预算。本发明还能够使用传统的多晶硅淀积工艺而不用修改,从而简单并多产地形成外延硅。
申请公布号 CN1691308A 申请公布日期 2005.11.02
申请号 CN200510006345.9 申请日期 2005.01.26
申请人 海力士半导体有限公司 发明人 李锡奎;安台恒;朴圣彦;赵俊熙;金一旭
分类号 H01L21/768;H01L21/324 主分类号 H01L21/768
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 陶凤波;侯宇
主权项 1.一种形成半导体器件的接触插塞的方法,包括下列步骤:提供硅衬底,所述硅衬底具有多个导电图案和所述导电图案之间的结区;在所述衬底上形成层间绝缘膜;形成接触孔以暴露所述衬底的所述结区;使用固相外延法在包括所述接触孔的所述整个衬底上淀积硅膜,使得外延硅生长在所述衬底的所述结区上并且非晶硅淀积在其上;以及对所得结构退火以将所述非晶硅重新生长为外延硅。
地址 韩国京畿道