发明名称 | 形成半导体器件的接触插塞的方法 | ||
摘要 | 在形成半导体器件的接触插塞的方法中,使用固相外延法形成外延硅以作为接触材料。与使用多晶硅作为接触材料的现有技术相比,该方法可获得减小的接触电阻和改进的刷新特性。此外,该方法使用了SPE法而不是传统的SEG法来形成外延硅,使得其能够通过低温工艺基本降低热预算。本发明还能够使用传统的多晶硅淀积工艺而不用修改,从而简单并多产地形成外延硅。 | ||
申请公布号 | CN1691308A | 申请公布日期 | 2005.11.02 |
申请号 | CN200510006345.9 | 申请日期 | 2005.01.26 |
申请人 | 海力士半导体有限公司 | 发明人 | 李锡奎;安台恒;朴圣彦;赵俊熙;金一旭 |
分类号 | H01L21/768;H01L21/324 | 主分类号 | H01L21/768 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 陶凤波;侯宇 |
主权项 | 1.一种形成半导体器件的接触插塞的方法,包括下列步骤:提供硅衬底,所述硅衬底具有多个导电图案和所述导电图案之间的结区;在所述衬底上形成层间绝缘膜;形成接触孔以暴露所述衬底的所述结区;使用固相外延法在包括所述接触孔的所述整个衬底上淀积硅膜,使得外延硅生长在所述衬底的所述结区上并且非晶硅淀积在其上;以及对所得结构退火以将所述非晶硅重新生长为外延硅。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |