| 主权项 |
1.一种光回损计,包括光源、连接至该光源的光隔离器、连接至该光隔离器的第一光耦合器、与该第一光耦合器相连的第二光耦合器和一个检测运算功能模组,该第二光耦合器连接至一待测装置。2.如申请专利范围第1项所述的光回损计,其中该光隔离器连接至第一光耦合器的第一端,第一光耦合器的第三端连接至该检测运算功能模组,第一光耦合器的第四端连接至第二光耦合器的第一端,第二光耦合器的第二端连接至该检测运算功能模组,第二光耦合器的第三端连接至该待测装置。3.如申请专利范围第2项所述的光回损计,其中第一光耦合器第三端和第四端的分光比为1:99。4.如申请专利范围第3项所述的光回损计,其中第二光耦合器第三端和第四端的分光比为80:20。5.如申请专利范围第3项所述的光回损计,其中第二光耦合器第三端和第四端的分光比为50:50。6.如申请专利范围第2项所述的光回损计,其中该检测运算功能模组包括依次相互连接的光探测装置、运算放大装置、继电控制装置和微控制单元。7.如申请专利范围第6项所述的光回损计,其中该继电控制装置包括第一第二和第三继电器,第一继电器的输入端与运算放大装置的输出端相连,第二和第三继电器的输入端分别与第一继电器的第一和第二输出端相连。8.如申请专利范围第7项所述的光回损计,其中该继电控制装置还包括一个电容器,其一端分别与第一继电器的输入端和运算放大装置的输出端相连,另一端分别与运算放大装置的第一输入端和光探测装置的输出端相连。9.如申请专利范围第8项所述的光回损计,其中该光探测装置的输出端连接至运算放大装置的第一输入端,运算放大装置的第二输入端接地。10.如申请专利范围第9项所述的光回损计,其中该光探测装置的输入端与运算放大装置的第二输入端的电势差可设为-5v。11.如申请专利范围第10项所述的光回损计,其中该继电控制装置进一步包括第一、第二、第三和第四电阻器,这四个电阻器的一端共同连接至前述电容器远离第一继电器的另一端;其中第一和第二电阻器远离电容器的另一端分别连接至第二继电器的第一和第二输出端,第三和第四电阻器远离电容器的另一端分别连接至第三继电器的第一和第二输出端。12.如申请专利范围第11项所述的光回损计,其中第一第二、第三和第四电阻器的电阻値成倍递增的关系。13.如申请专利范围第12项所述的光回损计,其中第一第二、第三和第四电阻器的电阻値系成50倍递增。14.如申请专利范围第13项所述的光回损计,其中第一第二、第三和第四电阻器的电阻値可以分别为400欧姆、20K欧姆、1M欧姆和50M欧姆。15.如申请专利范围第11项所述的光回损计,其中第一第二和第三继电器系分别通过对应的I/O口来对其施加相应的电压。16.如申请专利范围第8项所述的光回损计,其中该检测运算功能模组的光探测装置包括第一和第二光探测器,运算放大装置包括第一和第二运算放大器。17.如申请专利范围第16项所述的光回损计,其中第一光探测器的输入端连接至第一光耦合器的第三端,输出端连接至该运算放大器;第二光探测器的输入端连接至第二光耦合器的第二端,输出端连接至该运算放大器。18.如申请专利范围第17项所述的光回损计,其中第一光探测器的输出端连接至第一运算放大器的输入端,第二光探测器的输出端连接至第二运算放大器的输入端。19.如申请专利范围第18项所述的光回损计,其中该检测运算功能模组还包括分别设于运算放大装置和该微控制单元之间的类比数位转换装置。20.如申请专利范围第19项所述的光回损计,其中电容器与第一继电器的输入端和运算放大装置的输出端相连的一端还与该类比数位转换装置相连。21.如申请专利范围第20项所述的光回损计,其中该类比数位转换装置包括第一和第二数模转换器,其输入端分别与第一和第二运算放大器的输出端相连,用于将模拟信号转换为数字信号输入该微控制单元,输入端皆连接至该微控制单元。22.如申请专利范围第21项所述的光回损计,其中第一光耦合器第三端和第四端的分光比为1:99。23.如申请专利范围第22项所述的光回损计,其中第二光耦合器第三端和第四端的分光比为80:20。24.如申请专利范围第22项所述的光回损计,其中第二光耦合器第三端和第四端的分光比为50:50。25.如申请专利范围第6项所述的光回损计,其中该微控制单元具有24bit AD采集功能。26.如申请专利范围第1或2或6项所述的光回损计,其中该光源为一雷射光源。27.如申请专利范围第6项所述的光回损计,其中该微控制单元还分别连接至一个液晶显示装置和一个数値处理器。28.如申请专利范围第21项所述的光回损计,其中该微控制单元通过一个RS-232接口连接至计算机。29.一种量测光器件的量测仪器,包含有光源、连接至该光源的一光耦合器、与该光耦合器相连的待测装置和一个检测运算功能模组,其中该光源连接至光耦合器的第一端,光耦合器的第三端连接至该检测运算功能模组,而光耦合器的第四端连接至该待测装置的输入端,而该检测运算功能模组再连接至该待测装置的输出端,如此即可以用来量测该待测装置的插入损失。30.一种量测光传输通路的光学性质的量测仪器,包含有可以发出光脉卫的光源、连接至该光源的光隔离器、连接至该光隔离器的第一光耦合器、与该第一光耦合器相连的第二光耦合器和一个检测时间响应的检测运算功能模组,该第二光耦合器连接至前述的光传输通路;其中该光隔离器连接至第一光耦合器的第一端,第一光耦合器的第三端连接至该检测运算功能模组,第一光耦合器的第四端连接至第二光耦合器的第一端,第二光耦合器的第二端连接至该检测运算功能模组,第二光耦合器的第三端连接至该光传输通路。图式简单说明:第一图揭示一种测量光回损的现有技术的原理示意图;第二图是本发明的原理示意图;第三图是本发明中继电装置控制放大倍数的工作原理示意图;第四图是第二图中模组10的具体实施方案原理示意图。 |
