基于现场可编程门阵列的155M比特误码分析测试仪

摘要

本发明公开了一种基于现场可编程门阵列的155M比特误码分析测试仪，涉及光通信仪器仪表测试领域中一种误码分析测试仪；本发明通过现场可编程门阵列来实现伪随机码序列的发送、接收和误码检测计数，从而方便、快速、准确地进行误码分析测试。由被测试设备A、时钟数据提取恢复芯片B、时钟合成芯片C、现场可编程门阵列芯片D、单片机E、液晶显示屏、误码指示灯F、薄膜键盘G、串口通信接口H组成；现场可编程门阵列主要包括发送模块、接收模块、计数模块。本发明结构紧凑、便携方便、稳定性好、操作简便，对测试人员没有很高的技能要求，适合于通信系统的性能测试，比如稳定性、抖动、相位容差及光通信中的灵敏度、消光比等；也方便在工程现场测试。

主权项

1、一种基于现场可编程门阵列的155M比特误码分析测试仪，其特征在于由被测试设备(A)、时钟数据提取恢复芯片(B)、时钟合成芯片(C)、现场可编程门阵列芯片(D)、单片机(E)、液晶显示屏、误码指示灯(F)、薄膜键盘G、串口通信接口(H)组成；其连接关系是：液晶显示屏、误码指示灯(F)、薄膜键盘(G)、串口通信接口(H)分别与单片机(E)连接；被测试设备(A)、时钟数据提取恢复芯片(B)、时钟合成芯片(C)、单片机(E)分别与现场可编程门阵列芯片(D)连接；现场可编程门阵列包括：①发送模块(Da) 根据单片机(E)传递的参数控制时钟合成芯片(C)输出制定的频率；触发相应的伪随机码序列发送模块产生测试系统的信源比特流；②接收模块(Db) 前端由时钟数据提取恢复芯片(B)接收通信系统输出的比特流，恢复接收检测模块所需要的时钟和数据；并将其与本地产生的同步比特流进行比较；比较的同时，根据瞬间误码率来判定是否伪同步，及根据10-3、10-6误码率判定是否需要告警信号丢失、误码指示灯、触发接收端复位；③计数模块(Dc) 根据比较结果产生2个数组，总位数和误码数；并根据单片机E的指令回传测试数据。