发明名称 对称多切片计算机断层成像数据测量系统
摘要 用于计算机断层(CT)扫描器(12)的数据测量系统(DMS)(30)包括多个连接器化的检测器子阵列模块(32)。每个检测器子阵列模块(32)包括:闪烁器(40),用于响应X射线的照射,产生闪烁事件;光电检测器阵列(42),被布置为对闪烁进行检测;以及两个对称布置的信号连接器(541,542),用于发送光电检测器信号。对称安装的管线卡(60)与每侧的检测器子阵列模块(32)组的信号连接器(54)配合,以接收光电检测器信号。与管线卡(60)通信的处理器(64)接收来自管线卡(60)的光电检测器信号并且构成根据光电检测器信号的DMS输出。
申请公布号 CN1688253A 申请公布日期 2005.10.26
申请号 CN03823607.9 申请日期 2003.09.22
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 M·A·查波;R·P·卢塔;W·C·布伦内特
分类号 A61B6/03 主分类号 A61B6/03
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 杨生平;梁永
主权项 1.一种数据测量系统(30),用于计算机断层扫描器,该数据测量系统(30)包括:多个检测器子阵列模块(32),每个模块接收辐射并且生成对应的检测器信号;管线卡(60),与所述检测器子阵列模块(32)通信,以接收所述检测器信号;以及处理器(64),与所述管线卡(60)通信,以接收来自所述管线卡(60)的所述检测器信号,所述处理器(64)构成了根据所述检测器信号的数据测量系统的输出。
地址 荷兰艾恩德霍芬