发明名称 | 弯曲测试装置 | ||
摘要 | 一种弯曲测试装置,其测试一待测物,且包含一基座、一支撑元件以及一施力元件。该支撑元件具有一凸部与一支撑部,支撑部立设于基座上,凸部连接于支撑部,待测物则穿过凸部而由支撑部承接;施力元件具有一定位部以及复数个压掣部,压掣部分别与定位部的相对两侧连设,定位部具有一开口,且开口相对凸部而设,凸部穿设过开口,以使压掣部触接待测物的一表面进而压掣待测物以进行弯曲测试。该装置可简便地实施待测物检测,达到标准化检测的目的,并以机械装置取代手工检测。 | ||
申请公布号 | CN2736754Y | 申请公布日期 | 2005.10.26 |
申请号 | CN200420104835.3 | 申请日期 | 2004.09.23 |
申请人 | 精碟科技股份有限公司 | 发明人 | 潘祥元 |
分类号 | G01N3/20 | 主分类号 | G01N3/20 |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 文琦;陈肖梅 |
主权项 | 1、一种弯曲测试装置,其测试一待测物,其特征是,包含:一基座;一支撑元件,其具有一凸部与一支撑部,该支撑部立设于该基座上,该凸部连接于该支撑部,该待测物穿过该凸部而由该支撑部承接;以及一施力元件,其具有一定位部以及复数个压掣部,该等压掣部分别与该定位部的相对两侧连设,该定位部具有一开口且该开口相对该凸部而设,该凸部穿设过该开口,俾使该等压掣部触接该待测物的一表面且压掣该待测物弯曲。 | ||
地址 | 台湾省台北县五股乡五权七路13号 |