| 主权项 |
1.一种滑鼠输入信号之侦测方法,包括有:比较第一、第二光电晶体之输出电压信号X1、X2,以得到一方波参考周期信号;利用前述参考周期信号取出其变化缘脉波信号;在前述变化缘脉波产生时,取样并暂存前述输出电压信号X1或X2之电压値;以此次取样及暂存之电压値与先前之取样値计算出一参考电压値Y(n);以该参考电压値为基准,分别比较前述光电晶体之输出电压信号X1、X2以求出代表光电晶体导通或截止之0/1数位信号。2.如申请专利范围第1项所述滑鼠输入信号之侦测方法,该参考电压値Y(n)系以下式计算:其中,Y(n)为参考电压値,X(n)为此次取样値,X(n-1)为前次取样値。3.如申请专利范围第1项所述滑鼠输入信号之侦测方法,该参考电压値系以此次之取样値X(n)与前次之取样値X(n-1)相加后取其平均値而得,即以下式计算:其中,Y(n)为参考电压値,X(n)为此次取样値,X(n-1)为前次取样値。4.如申请专利范围第1项所述滑鼠输入信号之侦测方法,其中代表光电晶体导通或截止之0/1数位信号系再经过一杂讯消除器滤除杂讯后输出。5.一种滑鼠输入信号之侦测装置,包括有:一第一比较器,系比较第一、第二光电晶体之输出电压信号X1、X2,藉此得到一参考周期信号;一脉波信号产生单元,系连接前述第一比较器之输出端,以求出前述参考周期信号之变化缘脉波信号;一取样保持电路,系连接前述脉波信号产生单元及第一或第二光电晶体之输出端,在前述变化缘脉波信号产生时,用以取样并暂存输出电压信号之电压値;一参考电压计算单元,系连接前述取样保持电路之输出,藉由取样及暂存之电压値计算出一参考电压値;一第二比较器与一第三比较器,系利用该参考电压値为基准与第一、第二光电晶体之输出电压信号X1、X2进行比较,以求出代表光电晶体导通或截止的0/1数置信号,此0/1信号系再输入至后级的座标计算单元求出滑鼠的座标改变。6.如申请专利范围第5项所述滑鼠输入信号之侦测装置,其中该参考电压计算单元之参考电压値系以下式计算:其中,Y(n)为参考电压値,X(n)为此次取样値,X(n-1)为前一次取样値。7.如申请专利范围第5项所述滑鼠输入信号之侦测装置,该参考电压値系以此次之取样値X(n)与前次之取样値X(n-1)相加后取其平均値而得,即以下式计算:其中,Y(n)为参考电压値,X(n)为此次取样値,X(n-1)为前次取样値。8.如申请专利范围第5项所述滑鼠输入信号之侦测装置,其中该参考电压计算单元系为一低通滤波器,利用取样値计算出参考电压値,即其中Y(Z)为参考电压値,X(Z)为取样値,H(Z)为低通滤波器之转移函数。9.如申请专利范围第5项所述滑鼠输入信号之侦测装置,其中前述第二比较器与第三比较器之输出系个别连接有一杂讯消除器以滤除输出杂讯。10.如申请专利范围第5项所述滑鼠输入信号之侦测装置,其中该取样保持电路系由两开关及两电容器所组成。图式简单说明:第一图:系本发明第一实施例之架构方块图。第二图:系本发明比较光电晶体组输出信号X1、X2以求出一参考周期信号之波形示意图。第三图:系本发明取样保持电路与参考电压计算单元之实施电路。第四图:系本发明计算参考电压値之一波形模拟示意图。第五图:系本发明计算参考电压値之另一波形模拟示意图。第六图:系本发明第二实施例之架构方块图。第七图:系一习用滑鼠输入信号之侦测装置电路图。第八图:系另一习用滑鼠输入信号之侦测装置电路方块图。 |
