发明名称 | 半导体存储器件 | ||
摘要 | 本发明提供一种半导体存储器件。在进行细微化时,读出放大器的偏置增加、读出时产生误动作,芯片的成品率降低。具有由多个下拉电路和一个上拉电路构成的读出放大电路。此外,在多个下拉电路中的一个下拉电路中,构成下拉电路的晶体管与构成另一个下拉电路的晶体管相比,沟道长度和沟道宽度这样的常数更大。另外,多个下拉电路中,晶体管常数大的下拉电路先被激活,之后再激活另一个下拉电路和上拉电路,从而进行读出。 | ||
申请公布号 | CN1677564A | 申请公布日期 | 2005.10.05 |
申请号 | CN200510053069.1 | 申请日期 | 2005.03.07 |
申请人 | 株式会社日立制作所 | 发明人 | 秋山悟;竹村理一郎;河原尊之;关口知纪 |
分类号 | G11C11/409;H01L27/108 | 主分类号 | G11C11/409 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 曲瑞 |
主权项 | 1.一种半导体器件,具有:存储器阵列,包括多条字线、多条数据线和配置在其交点上的多个存储器单元;以及与上述多条数据线相连接的多个读出放大电路,其中上述多个读出放大电路分别包括第一导电型的第一MISFET对,其中一个第一MISFET的栅极与另一个第一MISFET的漏极彼此连接、第一导电型的第二MISFET对,其中一个第二MISFET的栅极与另一个第二MISFET的漏极彼此连接、和第二导电型的第三MISFET对,其中一个第三MISFET的栅极与另一个第三MISFET的漏极彼此连接,上述第一MISFET对是驱动力大于上述第二MISFET对的驱动力的元件。 | ||
地址 | 日本东京 |