发明名称 一种用查表功能指令实现存储器数据校验的方法
摘要 本发明提供了一种数据校验的方法,此方法是关于一种用查表功能指令实现存储器数据校验的方法。其基本原理是将存储器中的内容(可以是代码或数据),看作几张数据表,然后利用查表功能指令依次读取各表的内容进行处理(如CRC8),实现对存储器校验测试。这种方法实现简单、效率高、成本低,特别适合于对SoC芯片内的存储器数据进行校验和测试。
申请公布号 CN1677576A 申请公布日期 2005.10.05
申请号 CN200510037708.5 申请日期 2005.02.01
申请人 苏州超锐微电子有限公司 发明人 谢海雁;杨明;沈寒冰;朱小茅;吴俊辉
分类号 G11C29/00;G06F11/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项 1.一种用查表功能指令实现存储器数据校验的方法,该方法包括以下步骤:①.编写测试功能代码,该代码要实现将需要测试的存储器地址空间,作为N(N>=1)个该处理器的查表指令支持的表处理,并对各表依次用该处理器的查表指令读取,用一定的算法(如CRC8)进行处理,完成各表处理后给出校验是否通过的指示;②.当测试芯片时,运行该测试功能代码,以完成对该存储器的校验测试,并得到结果指示。
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