发明名称 | 一种用查表功能指令实现存储器数据校验的方法 | ||
摘要 | 本发明提供了一种数据校验的方法,此方法是关于一种用查表功能指令实现存储器数据校验的方法。其基本原理是将存储器中的内容(可以是代码或数据),看作几张数据表,然后利用查表功能指令依次读取各表的内容进行处理(如CRC8),实现对存储器校验测试。这种方法实现简单、效率高、成本低,特别适合于对SoC芯片内的存储器数据进行校验和测试。 | ||
申请公布号 | CN1677576A | 申请公布日期 | 2005.10.05 |
申请号 | CN200510037708.5 | 申请日期 | 2005.02.01 |
申请人 | 苏州超锐微电子有限公司 | 发明人 | 谢海雁;杨明;沈寒冰;朱小茅;吴俊辉 |
分类号 | G11C29/00;G06F11/00 | 主分类号 | G11C29/00 |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 1.一种用查表功能指令实现存储器数据校验的方法,该方法包括以下步骤:①.编写测试功能代码,该代码要实现将需要测试的存储器地址空间,作为N(N>=1)个该处理器的查表指令支持的表处理,并对各表依次用该处理器的查表指令读取,用一定的算法(如CRC8)进行处理,完成各表处理后给出校验是否通过的指示;②.当测试芯片时,运行该测试功能代码,以完成对该存储器的校验测试,并得到结果指示。 | ||
地址 | 215011江苏省苏州市新区滨河路1433号 |