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发明名称 SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM STORING PIN CALIBRATION DATA, COMMANDS AND OTHER DATA IN NON-VOLATILE MEMORY
摘要
申请公布号 EP1581870(A2) 申请公布日期 2005.10.05
申请号 EP20040701079 申请日期 2004.01.09
申请人 ADVANTEST CORPORATION 发明人 RAJSUMAN, ROCHIT,;SAUER, ROBERT,;YAMOTO, HIROAKI,
分类号 G01R31/28;G01R31/319;G01R31/3193;G11C29/56;(IPC1-7):G06F11/14;G06F11/07 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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