| 摘要 |
一种USB记忆体测试设备及其方法，包含有：托盘，承载复数个USB记忆体，并藉由托盘升降器作一垂直升降；载入／载出拾取装置，具有第一拾取器与第二拾取器，以真空吸取USB记忆体，并透过XY轴起重架作X轴与Y轴的移动，以拾取USB记忆体至托盘上，且透过感测第二拾取器之真空吸取压力变化情形，以感测USB记忆体的吸附方向；瑕疵品置放盘，用以存放测试后之不良USB记忆体，与反向吸附的USB记忆体；推进装置，透过推进转移器作一水平移动，且透过一盖体覆盖于推进装置的上表面，以压制USB记忆体；及测试板，设置有复数个连接埠的测试座，藉由推进转移器转移推进装置，使USB记忆体的连接器插入连接埠，以测试电性连接特性，并产生一测试结果。69475 |
