发明名称 |
PROCEDE DE FABRICATION D'UN TRANSISTOR BIPOLAIRE A BASE EXTRINSEQUE MONOCRISTALLINE |
摘要 |
<P>L'invention concerne un procédé de formation d'un transistor bipolaire dans un substrat semiconducteur (20) d'un premier type de conductivité, comportant les étapes suivantes :a) former sur le substrat une couche monocristalline de silicium-germanium (22) ;b) former une couche de silicium monocristallin (24) fortement dopée d'un second type de conductivité ;c) former une couche d'oxyde de silicium (26) ;d) ouvrir une fenêtre (28) dans les couches d'oxyde de silicium et de silicium ;e) former sur les parois de la fenêtre un espaceur (30) en nitrure de silicium ;f) éliminer la couche de silicium-germanium depuis le fond de la fenêtre ;g) former dans la cavité (31) résultante de l'élimination précédente une couche semiconductrice monocristalline (32) fortement dopée du second type de conductivité ; eth) former dans ladite fenêtre l'émetteur (36) du transistor.</P>
|
申请公布号 |
FR2868203(A1) |
申请公布日期 |
2005.09.30 |
申请号 |
FR20040050610 |
申请日期 |
2004.03.29 |
申请人 |
STMICROELECTRONICS SA SOCIETE ANONYME |
发明人 |
CHANTRE ALAIN;CHEVALIER PASCAL |
分类号 |
H01L21/331;H01L21/8222;H01L29/10;H01L29/737;(IPC1-7):H01L21/331 |
主分类号 |
H01L21/331 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|