发明名称 EEPROM MEMORY CELL FOR HIGH TEMPERATURES
摘要 <p>Es wird eine EEPROM-Speicherzelle für den Einsatz bei hohen Temperaturen beschrieben, die mit der SOI-Technologie hergestellt ist. Konventioneller Weise besteht eine EEPROM-Zelle für hohe Temperaturen aus drei MOS-Transistoren. Die erfindungsgemäße EEPROM-Zelle ist aus einem Speichertransistor mit einem Floating-Gate und einem Hochvolttransistor mit frei belegbaren BodyAnschluss aufgebaut. Durch eine konstruktive Änderung im Aufbau des Hochvolttransistors kann ein dritter Transistor in der Speicherzelle vermieden werden, wodurch ihre Halbleiterscheibenfläche und damit Kosten eingespart werden.</p>
申请公布号 WO2005088705(A1) 申请公布日期 2005.09.22
申请号 WO2005EP51099 申请日期 2005.03.10
申请人 X-FAB SEMICONDUCTOR FOUNDRIES AG;IMMS GGMBH;RICHTER, STEFFEN;RICHTER, SONJA;NUERNBERGK, DIRK;KIRSTEN, DAGMAR 发明人 RICHTER, STEFFEN;RICHTER, SONJA;NUERNBERGK, DIRK;KIRSTEN, DAGMAR
分类号 H01L21/8247;H01L21/84;H01L27/115;H01L27/12;(IPC1-7):H01L21/84;H01L21/824 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人
主权项
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