发明名称 双面研磨方法及装置
摘要 使用一张载体将一片晶圆加以研磨加工的单张式双面研磨方法,以改善工作物(work)之平坦度。其解决手段为:在旋转之上下机盘(platen)10、20间配置直径比机盘大之载体30,由该载体支撑直径比机盘10、20小之晶圆50。由复数偏心齿轮41旋转载体30。在偏心齿轮圆周方向之复数场所与载体30之外周面所形成的外齿部咬合,在各咬合位置各以偏离各偏心齿轮之中心之位置为中心,同步旋转。载体30系一面以其中心周围加以自转,一面在从其中心偏离之机盘10、20的中心周围作圆周运动。按照需要,将上侧机盘10垂直于中心轴之方向加以往返移动。藉由晶圆各部之运动轨迹的复杂化,转速起大变化,增进转速之平均化,加以改善平坦度。
申请公布号 TW200529975 申请公布日期 2005.09.16
申请号 TW093138879 申请日期 2004.12.15
申请人 柏原机械制作所股份有限公司;三菱住友矽晶股份有限公司 发明人 堀口明;中尾昭治
分类号 B24B7/17;B24B37/04;H01L21/304 主分类号 B24B7/17
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 日本