| 主权项 |
1.一种测试治具之探针结构,系包含外套筒、轴杆 、针体及尾盖,该外套筒具有一中空状之容置空间 ,且该外套筒一端为口径较大之接合口,另端为口 径较小之穿设口,该轴杆之一端为较大管径之顶掣 部,并容设于前述之容置空间中,且该顶掣部系顶 置于前述穿设口之内侧壁上,该针体之一端为较大 管径之压抵部,另端为管径较小之套接部,并配置 于轴杆上方,且套接部一端则穿透出穿设口,该尾 盖系具有一中空状之通道,且该通道可供轴杆穿设 ,其尾盖系迫紧于接合口处;其特征在于: 该容置空间中系设有二个弹性体,第一弹性体系配 置于针体之套接部上,而第二弹性体则配置于针体 压抵部与轴杆顶掣部之间。 2.如申请专利范围第1项所述测试治具之探针结构, 其中,该轴杆相对应于顶掣部之另端可接设导线。 3.如申请专利范围第1项所述测试治具之探针结构, 其中,该弹性体可为压缩弹簧。 4.如申请专利范围第1项所述测试治具之探针结构, 其中,该外套筒及针体为金属制成。 5.一种测试治具之探针结构,系包括有一固定板、 针板及测试面板,该针板上预设有对应待测电路板 之各待测点位置之针孔,而复数个探针则插置于该 针孔内,其一端设有导线用以将讯号传递至测试机 ,而测试面板则设于针板上方,测试面板上亦预设 有与针板之针孔相对应之穿孔,而探针系穿过测试 面板之穿孔,而凸出于测试面板,将待测试电路板 设置于测试面板上方,藉由测试机具将待测点与探 针接触,而将电讯号由导线传递至测试机上,由测 试机判定各待测点是否导通,以完成电路板之测试 作业;其特征在于:该探针系包含外套筒、轴杆、 针体、二弹性体及尾盖 6.如申请专利范围第5项所述测试治具之探针结构, 其中,该探针之外套筒具有一中空状之容置空间, 且该外套筒一端为口径较大之接合口,另端为口径 较小之穿设口,该轴杆之一端为较大管径之顶掣部 ,并容设于前述之容置空间中,且该顶掣部系顶置 于前述穿设口之内侧壁上,该针体之一端为较大管 径之压抵部,另端为管径较小之套接部,并配置于 轴杆上方,且套接部一端则穿透出穿设口,该二弹 性体系设于容置空间中,第一弹性体系配置于针体 之套接部上,而第二弹性体则配置于针体压抵部与 轴杆顶掣部之间,该尾盖系具有一中空状之通道, 且该通道可供轴杆穿设,其尾盖系迫紧于接合口处 。 7.如申请专利范围第5项所述测试治具之探针结构, 其中,该针板与测试面板之间另外设置有一斜率板 ,可导正针体之位置。 图式简单说明: 第一图系为习有探针之结构分解图。 第二图系为本创作中探针之整体结构立体图。 第三图系为本创作中探针之结构分解图。 第四图系为本创作中探针之结构示意图。 第五图系为本创作中测试治具之结构分解图。 第六图系为本创作中测试治具之结构示意图。 |
