发明名称 Device and method for detecting the defect of IC
摘要
申请公布号 KR100513877(B1) 申请公布日期 2005.09.09
申请号 KR20030048629 申请日期 2003.07.16
申请人 发明人
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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