发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 〔课题〕提供采用多孔质绝缘膜,制造电气特性与可靠性均优越的半导体装置之方法。〔解决手段〕对半导体基板上所形成的绝缘膜组成物,在非活性气体环境下,于350℃以下的温度中施行第1加热处理,而形成非多孔质绝缘膜。其次,利用以光阻图案为遮罩的乾式蚀刻处理,而在非多孔质绝缘膜中形成沟,并利用灰化处理而去除光阻图案之后,再将半导体基板表面施行洗净。然后,对非多孔质绝缘膜施行第2加热处理,而形成多孔质绝缘膜。因为第2加热处理在氧化性气体环境下实施,因而可在较知更低温中去除空孔形成材料,形成低介电率绝缘膜。
申请公布号 TW200529392 申请公布日期 2005.09.01
申请号 TW093138353 申请日期 2004.12.10
申请人 三洋电机股份有限公司 发明人 实泽佳居;大桥直史
分类号 H01L23/31 主分类号 H01L23/31
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本