一种利用单光束激光进行准直/轴对中测量的方法

摘要

本发明属于利用激光进行精密测量的技术。其技术方案是：将半导体激光器LD和位敏探测器PSD分别安装到待对中的两轴上，以半导体激光器LD支柱的轴线与从动轴B的轴线之交点为坐标原点O，作直角坐标系O-XYZ，X轴沿半导体激光器LD支柱的轴线向上，Z轴沿从动轴B的轴线向右，Y轴则垂直于纸面向外。本发明提供了以半导体激光器LD和位敏探测器PSD作为测量仪器及其测量数据处理的数学模型，该测量方法不仅其装置结构简单，而且扩大了功能，可兼作激光准直仪使用，而且其数学模型还可用于对计算机采集的数据进行处理。

主权项

1.一种利用单光束激光进行准直/对中测量的方法，其特征是，将半导体激光器LD和位敏探测器PSD分别安装到待对中的两轴上，即图1中示出的从动轴B(2)和主动轴A(1)，以半导体激光器LD支柱的轴线与从动轴B的轴线之交点为坐标原点O，作直角坐标系O-XYZ，见图1，X轴沿半导体激光器LD支柱的轴线向上，Z轴沿从动轴B的轴线向右，Y轴则垂直于纸面向外，设位敏探测器PSD支柱的轴线与主动轴A的轴线之交点在坐标系的坐标为x0，y0 和z0，两轴夹角在竖直面和水平面的投影分别为θ和φ，利用本方法进行测量时，须同步、同向转动两轴，转角为α，测出半导体激光器LD发出的激光束照射到位敏探测器PSD上的光斑的位置，即光斑在位敏探测器PSD上的二维坐标，则可计算出上述表征两轴相对位置的参量x0，y0，θ和φ。