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发明名称 SEMICONDUCTOR IC BEING CAPABLE OF CO-DEBUGGING AND SEMICONDUCTOR IC TEST SYSTEM
摘要
申请公布号 KR20050080686(A) 申请公布日期 2005.08.17
申请号 KR20040008788 申请日期 2004.02.10
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 KANG, SHIN CHAN;KIM, SUN KYU
分类号 G01R31/28;G06F11/00;G06F11/267;G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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