Gedruckte-Schaltungsplatine-Testzugangspunktstrukturen und Verfahren zum Herstellen derselben

摘要

Eine Testzugriffspunktstruktur zum Zugreifen auf Testpunkte einer gedruckten Schaltungsplatine und ein Verfahren zur Herstellung derselben ist präsentiert. In einem x-, y-, z-Koordinatensystem, wo Leiterbahnen entlang einer x-y-Ebene gedruckt werden, wird die z-Abmessung verwendet, um Testzugriffspunktstrukturen zu implementieren. Jede Testzugriffspunktstruktur ist leitfähig mit einer Leiterbahn an einem Testzugriffspunkt direkt auf der Leiterbahn und entlang der z-Achse des x-, y-, z-Koordinatensystems über einer freigelegten Oberfläche der gedruckten Schaltungsplatine verbunden, um für elektrisches Testen durch eine externe Vorrichtung zugreifbar zu sein.