发明名称 Method and circuit for testing virgin memory cells in a multilevel memory device
摘要
申请公布号 EP0997913(B1) 申请公布日期 2005.08.10
申请号 EP19980830654 申请日期 1998.10.29
申请人 STMICROELECTRONICS S.R.L. 发明人 RIVA, MARCO;ROLANDI, PAOLO;MONTANARO, MASSIMO
分类号 G06F12/16;G11C11/56;G11C16/02;G11C29/12;G11C29/50;(IPC1-7):G11C29/00;G06F11/20 主分类号 G06F12/16
代理机构 代理人
主权项
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