发明名称 |
半导体晶片的制造方法 |
摘要 |
一种供有抛壳流体、在持续一抛光时间的抛光周期内、于转动抛光盘的间同时抛光半导体晶片正面及背面以制造半导体晶片的方法,该半导体晶片位于一支座的切除部内且固定于一既定的几何路线上,该支座具有既定的支座厚度,该半导体晶片具有抛光前的起始厚度及抛光后的最终厚度,其中该抛光所需的抛光时间是由若干数据计算得来,这些数据包含:起始厚度及支座厚度以及于当前抛光周期之前的上一抛光周期内被抛光的半导体晶片的起始厚度、最终厚度及平面度。 |
申请公布号 |
CN1649103A |
申请公布日期 |
2005.08.03 |
申请号 |
CN200510005662.9 |
申请日期 |
2005.01.24 |
申请人 |
硅电子股份公司 |
发明人 |
贡特尔·卡恩;曼弗雷德·图尔纳;卡尔-海因茨·瓦扬德;阿明·德塞尔;马库斯·施纳普奥夫 |
分类号 |
H01L21/304;B24B37/04 |
主分类号 |
H01L21/304 |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 |
代理人 |
刘兴鹏 |
主权项 |
1.一种供有抛光流体、在持续一抛光时间的抛光周期内、于转动抛光盘之间同时抛光半导体晶片正面及背面以制造半导体晶片的方法,该半导体晶片位于一支座的切除部内且固定于—既定的几何路线上,该支座具有既定的支座厚度,该半导体晶片具有抛光前的起始厚度及抛光后的最终厚度,其中该抛光周期的抛光时间是由若干数据计算得来,这些数据包含:半导体晶片的起始厚度及支座厚度以及于当前抛光周期之前的上一抛光周期内被抛光的半导体晶片的起始厚度、最终厚度及平面度。 |
地址 |
联邦德国慕尼黑 |