发明名称 | 测量聚合物分子量的方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种聚合物质量分析的方法,该方法通过测量聚合物在高介电常数的溶剂中电雾化所产生的电荷减少的离子的迁移率而确定聚合物的分子量。通过电雾化形成的聚合物离子携带一定量的与其长度和质量成正比的电荷。在放射性源的作用下,所得的聚合物离子的电荷数减少至1。然后采用高分辨率的差示迁移率分析仪(DMA)测量电荷减少的聚合物离子的迁移率分布。利用窄分布的聚合物质量标准物测定聚合物的迁移率Z与其质量m之间的关系Z(m)。根据本发明的方法分析的聚合物包括重均分子量在1-500,000kD的水溶性聚合物和水不溶性聚合物。 | ||
申请公布号 | CN1648652A | 申请公布日期 | 2005.08.03 |
申请号 | CN200510005619.2 | 申请日期 | 2005.01.21 |
申请人 | 罗姆和哈斯公司 | 发明人 | J·N·亚历山大四世;D·A·索西 |
分类号 | G01N27/62;G01N27/416 | 主分类号 | G01N27/62 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 邓毅 |
主权项 | 1.一种测定聚合物分子量分布的方法,其包括以下步骤:(a)对聚合物和一种或多种参比聚合物进行电雾化;(b)利用高分辨率差示迁移率分析仪测量聚合物和一种或多种参比聚合物的离子迁移率;和(c)由相应所测量的聚合物离子迁移率计算聚合物分子量,与一种或多种参比聚合物比较获得聚合物的分子量。 | ||
地址 | 美国宾夕法尼亚 |