发明名称 非接触激光相对高度测量装置
摘要 本实用新型涉及一种非接触激光相对高度测量装置,用于电子组装生产中测量锡膏的厚度,包括机座、激光投射装置及成像装置,机座上设有移动臂,成像装置和激光投射装置设置在移动臂上,移动臂相对机座有一位置测量装置。本实用新型与现有技术相比,能够有效减少测量过程中的误差来源,提高测量精度。
申请公布号 CN2715106Y 申请公布日期 2005.08.03
申请号 CN200420044604.8 申请日期 2004.04.07
申请人 刘杰波 发明人 刘杰波
分类号 G01B11/02;G01C11/00 主分类号 G01B11/02
代理机构 深圳市中知专利商标代理有限公司 代理人 王雄杰
主权项 1、一种非接触激光相对高度测量装置,包括机座、激光投射装置及成像装置,其特征在于所述机座上设有移动臂,所述成像装置和激光投射装置设置在所述移动臂上,所述移动臂相对机座有一位置测量装置。
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