发明名称 硬光罩之后电浆清除方法
摘要 本发明提供一种制造一半导体装置之方法,其包括一种制造一半导体装置之方法,其包含:通过一位于一半导体基板225上方之图案化硬遮罩层210进行电浆蚀刻250,其中该电浆蚀刻在该硬遮罩层210上形成一修改层210a;并藉由将该修改层210a曝露于一后电浆清除方法来移除该修改层210a之至少一实质部分。
申请公布号 TW200525631 申请公布日期 2005.08.01
申请号 TW093130924 申请日期 2004.10.12
申请人 德州仪器公司 发明人 布莱安K 基克派崔克;克莱L 蒙哥马利;布莱安M 特伦曼;朗道尔W 帕克
分类号 H01L21/3065 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国