发明名称 微位移的平面光波导测量装置
摘要 一种微位移的平面光波导测量装置,属于精密仪器领域。本发明光波导微位移传感器固定在光学旋转平台上,光电探测部分包括:激光器、偏振器、光学小孔、光电探测器,激光器、偏振器,光学小孔固定在光学旋转平台外,它们保持等高共轴,光轴指向光波导微位移传感器的中心,光电探测器、激光器关于光波导微位移传感器的中心轴对称,同时光电探测部分的光电探测器固定在光学旋转平台上。本发明可以广泛应用于大坝、建筑物、地壳的微位移测量,可以实现高灵敏度、快速实时的测量,同时保证仪器具有制造工艺简单、易于实现、小型化等特点。
申请公布号 CN1645040A 申请公布日期 2005.07.27
申请号 CN200510023455.6 申请日期 2005.01.20
申请人 上海交通大学 发明人 陈凡;曹庄琪;沈启舜;邓晓旭;冯耀军
分类号 G01B11/16;G01D5/26 主分类号 G01B11/16
代理机构 上海交达专利事务所 代理人 王锡麟;王桂忠
主权项 1、一种微位移的平面光波导测量装置,包括:光学旋转平台(1)、光波导微位移传感器(2)和光电探测部分(3),光波导微位移和微振动传感器(2)固定在光学旋转平台(1)上,光学旋转平台(1)支撑整个光波导微位移传感器(2),其特征在于,所述的光电探测部分(3)包括:激光器(4)、偏振器(5)、光学小孔(6)、光电探测器(7),激光器(4)、偏振器(5)、光学小孔(6)固定在光学旋转平台(1)外,光轴指向光波导微位移传感器(2)的中心,光电探测器(7)、激光器(4)关于光波导微位移传感器(2)的中心轴对称,光电探测器(7)固定在光学旋转平台(1)上。
地址 200240上海市闵行区东川路800号