发明名称 INSPECTION DEVICE OF SEMICONDUCTOR PACKAGE
摘要
申请公布号 KR20050073712(A) 申请公布日期 2005.07.18
申请号 KR20040001560 申请日期 2004.01.09
申请人 PARK, KWANG OH 发明人 PARK, KWANG OH
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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