发明名称 Low-k膜用之蚀刻液及蚀刻方法
摘要 本发明系有关,含有(1)HF及/或其盐、(2)H2SO4及因应需要进而含有(3)水之low–k膜用之蚀刻液。
申请公布号 TW200524040 申请公布日期 2005.07.16
申请号 TW093134135 申请日期 2004.11.09
申请人 大金工业股份有限公司 发明人 毛塚健彦
分类号 H01L21/308 主分类号 H01L21/308
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本