发明名称 | 确定表面轮廓的测量方法 | ||
摘要 | 确定导电物体的表面轮廓的方法,其中使用的探测器包括一个发射器/接收器系统,用于在物体中感生出瞬时涡电流,以及用于提供一个表示磁场特性的信号,该方法包括:a)在表面上选择一个校准点及发射器/接收器系统的多个校准位置;b)通过在每个校准位置处确定响应由发射器在物体中感生出的瞬时涡电流在接收器内产生的信号的特征值,确定一组校准值,其中所述特征值与信号的幅度相关;c)确定一个将所述校准值与校准位置和校准点的相对位置联系起来的校准函数;d)在物体表面上选择一组检测点,以及发射器/接收器系统的一组相应检测位置;e)通过在每个检测位置处确定响应于由发射器在物体中感生出的瞬时涡电流在接收器内产生的信号的特征值,确定一组检测值;并且f)通过利用校准函数解释该组检测值来确定表面轮廓,其中推导出检测点与相应检测位置的相对位置。 | ||
申请公布号 | CN1639538A | 申请公布日期 | 2005.07.13 |
申请号 | CN03804706.3 | 申请日期 | 2003.02.26 |
申请人 | 国际壳牌研究有限公司 | 发明人 | 鲍拉斯·C·N·克鲁泽恩 |
分类号 | G01B7/28;G01N27/90 | 主分类号 | G01B7/28 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 李勇 |
主权项 | 1.确定导电物体的表面轮廓的方法,其中使用了探测器,它包括适于在物体中感生出瞬时涡电流的发射器,以及适于提供表示磁场强度或磁场强度变化的信号的接收器,所述发射器和接收器形成了一个发射器/接收器系统,该方法包括下列步骤:(a)在表面上选择一个校准点,并选择发射器/接收器系统相对于该校准点的多个校准位置;(b)通过在每个校准位置处确定一个响应由发射器在物体中感生出的瞬时涡电流在接收器内产生的信号的特征值,确定一组校准值,其中所述特征值与信号的幅度相关;(c)确定一个将所述校准值与校准位置和校准点的相对位置联系起来的校准函数;(d)在物体的表面上选择一组检测点,并对应于这组检测点选择发射器/接收器系统的一组检测位置;(e)通过在每个检测位置处确定一个响应由发射器在物体中感生出的瞬时涡电流在接收器内产生的信号的特征值,确定一组检测值;并且(f)通过解释该组检测值来确定表面轮廓,其中考虑到校准函数,并且其中推导出检测点与相应检测位置的相对位置。 | ||
地址 | 荷兰海牙 |