发明名称 预烧测试静态随机存取存储器的方法及装置
摘要 一种预烧测试一静态随机存取存储器的方法及装置;该静态随机存取存储器包含有:多条字线、多条第一位线、多条第二位线,以及多个存储器单元;每一存储器单元电连接于一对应的字线、一对应的第一位线、一对应的第二位线以及一电源;其中该电源会施加一工作电压于该存储器单元,以使该存储器单元得以运作;当该装置测试该随机存取存储器时,该装置会依据该字线的电压以及该第一及第二位线之间的电压差来调整该工作电压;本发明的测试装置可同时对较多的存储器单元进行测试,并可因此有效地缩短测试随机存取存储器所需花费的时间。
申请公布号 CN1210779C 申请公布日期 2005.07.13
申请号 CN02140162.4 申请日期 2002.07.01
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 陈瑞隆;黄世煌
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 代理人 陈红
主权项 1.一种预烧测试静态随机存取存储器的方法,该静态随机存取存储器包含有:多条字线;多条第一位线;多条第二位线;以及多个存储器单元,用来储存资料,每一存储器单元电连接于一对应的字线、一对应的第一位线、一对应的第二位线以及一电源,该电源施加一工作电压于该存储器单元,以使该存储器单元得以运作;其特征是:该方法包含下面步骤:从该多个存储器单元中选择一预定数目的存储器单元进行测试;使电连接于所选择的存储器单元的字线的电压高于一第一电压常数;使电连接于所选择的存储器单元第一位线及第二位线之间的电压差大于一第二电压常数;以及当电连接于所选择的存储器单元的字线的电压高于该第一电压常数以及电连接于所选择的存储器单元的第一位线及第二位线之间的电压差大于该第二电压常数时,使该工作电压从一第三电压常数提升至一第四电压常数。
地址 台湾省新竹市