发明名称 测定头用位置调整装置及非接触型电阻率测定装置
摘要 本发明提供测定头用位置调整装置及非接触型电阻率测定装置,其用以使测定头正确地扫描于检查试样之表面上,以防止检查试样之破损。其中测定头用位置装置包括:头位置调整手段,其调整测定头(16)与检查试样(17)之间隔(12);透明基准板(13),其设计成与测定头(16)一体且与检查试样(17)之表面平行,并间接显示测定头(16)和检查试样(17)之表面的间隔;头间隔监视手段(14),其射出检查光,同时入射基准板(13)之反射光与检查试样(17)之反射光并比较该等反射光,以监视测定头(16)和检查试样(17)表面之间隔;以及控制手段(15)其根据头间隔监视手段(14)的检测值,驱动头位置调整手段(12),以将测定头(16)与检查试样(17)的表面之间隔调整为设定值。头间隔监视手段(14)包含检测出反射光之入射位置的线性图像感测器。
申请公布号 TW200521453 申请公布日期 2005.07.01
申请号 TW093133796 申请日期 2004.11.05
申请人 奈普森股份有限公司 发明人 细川理彰
分类号 G01R31/00;G01R27/02 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人 赖经臣;宿希成
主权项
地址 日本