发明名称 PLANAR VOLTAGE CONTRAST TEST STRUCTURE AND METHOD
摘要
申请公布号 SG112043(A1) 申请公布日期 2005.06.29
申请号 SG20040006562 申请日期 2004.09.09
申请人 CHARTERED SEMICONDUCTOR MANUFACTURING LTD. 发明人 VICTOR LIM SENG KEONG;DENNIS TAN;SIMON CHAN TZE HO
分类号 G01R31/28;G01R31/307 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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