发明名称 微细图型之形成方法
摘要 本发明系提供一种于具光阻图型之基板上被覆图型微细化用被覆形成剂后,藉由热处理使该图型微细化用被覆形成剂进行热收缩,利用该热收缩作用缩小光阻图型间之间隔,再将此处理基板以超出60秒之时间接触去除液后,使该图型微细化用被覆形成剂完全实质的去除之微细图型形成方法被揭示之。藉由本发明意图降低缺陷之产生,提升生产率之微细图型之形成方法者。
申请公布号 TWI234808 申请公布日期 2005.06.21
申请号 TW092128187 申请日期 2003.10.09
申请人 东京应化工业股份有限公司 发明人 金子文武;菅田祥树;立川俊和
分类号 H01L21/027 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 1.一种微细图型之形成方法,其特征系于具有光阻图型之基板上被覆图型微细化用被覆形成剂后,藉由热处理使该图型微细化用被覆形成剂进行热收缩后,利用该热收缩作用,缩小光阻图型间之间隔,接着如此处理之基板以超过60秒的时间接触去除液后,使该图型微细化用被覆形成剂实质上完全去除者。2.如申请专利范围第1项之微细图型的形成方法,其中该图型微细化用被覆形成剂为含有水溶性聚合物者。3.如申请专利范围第2项之微细图型的形成方法,其中该水溶性聚合物为至少1种选自烷二醇系聚合物、纤维素系衍生物、乙烯系聚合物、丙烯系聚合物、系聚合物、环氧系聚合物、蜜胺系聚合物、及醯胺系聚合物中者。4.如申请专利范围第1项之微细图型的形成方法,其中该图型微细化用被覆形成剂为固形份浓度3~50质量%之水溶液者。5.如申请专利范围第1项之微细图型的形成方法,其中该方法系于基板上之光阻图型不引起热流动之温度下,加热之后,进行热处理者。
地址 日本