发明名称 自动量测光反应时间之系统及其方法
摘要 本发明提供一种自动量测光反应时间之系统,此系统包括侦测模组和控制模组,与待测显示器连接形成一个量测回路。本系统系利用侦测模组量测灰阶影像改变前后的两个光强弱差异电压,经电阻分压做为比较标准,与灰阶影像变化所量测到之光强弱电压做比较,以快速的取得光反应时间并加以储存,而且可以达到自动量测的功能。使用此系统,可以达到用较低的成本与较快的速度来实现量测显示器的光反应时间。
申请公布号 TWI234055 申请公布日期 2005.06.11
申请号 TW092135343 申请日期 2003.12.15
申请人 凌阳科技股份有限公司 发明人 杨和兴
分类号 G04F13/02 主分类号 G04F13/02
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 1.一种自动量测光反应时间之系统,适用于量测一显示器,该系统包括:一侦测模组,用以量测该显示器的一灰阶影像之一光反应时间;以及一控制模组,用以接收并储存该侦测模组所量测之该光反应时间,该控制模组改变该显示器的该灰阶影像,而该侦测模组则继续量测改变后之该显示器的该灰阶影像之该光反应时间。2.如申请专利范围第1项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该侦测模组包括:一灰阶影像初始値量测单元,用以量测该显示器之一第一部份的一第一光灰阶値,以输出一灰阶影像初始値;一灰阶影像最终値量测单元,用以量测该显示器之一第二部份的一第二光灰阶値,以输出一灰阶影像最终値;一灰阶影像变化値量测单元,用以量测该显示器之一第三部份的一第三光灰阶値,以输出一灰阶影像变化値;一比例电路,耦接该灰阶影像初始値量测单元及该灰阶影像最终値量测单元之一输出端,用以接收该灰阶影像初始値及该灰阶影像最终値,以输出一计数开始値及一计数结束値,该计数开始値及该计数结束値系介于该灰阶影像初始値及该灰阶影像最终値内之一预定比例;以及一比较电路,用以利用该计数开始値、该计数结束値以及该灰阶影像变化値,进行比较运算,以输出一第一比较讯号及一第二比较讯号。3.如申请专利范围第2项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该侦测模组之该灰阶影像初始値量测单元包括:一光感应元件,系为一光二极体,用以量测该显示器之该第一部份之该第一光灰阶値,并将所测得之该第一光灰阶値转换为一初値电流;一电流转电压电路,用以接收该初値电流,并将该初値电流转换为电压,输出一初値电压;以及一电压放大电路,用以接收并放大该初値电压,以输出该灰阶影像初始値。4.如申请专利范围第2项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该侦测模组之该灰阶影像初始値量测单元所量测该显示器之该第一部份,系为该显示器面板之最左侧的三分之一范围。5.如申请专利范围第2项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该侦测模组之该灰阶影像最终値量测单元包括:一光感应元件,系为一光二极体,用以量测该显示器之该第二部份之该第二光灰阶値,并将所测得之该第二光灰阶値转换为一终値电流;一电流转电压电路,用以接收该终値电流,并将该终値电流转换为电压,输出一终値电压;以及一电压放大电路,用以接收并放大该终値电压,以输出该灰阶影像最终値。6.如申请专利范围第2项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该侦测模组之该灰阶影像最终値量测单元所量测该显示器之该第二部份,系为该显示器面板之最中间的三分之一范围。7.如申请专利范围第2项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该侦测模组之该灰阶影像变化値量测单元包括:一光感应元件,系为一光二极体,用以量测该显示器之该第三部份之该第三光灰阶値,并将所测得之该第三光灰阶値转换为一变化电流;一电流转电压电路,用以接收该变化电流,并将该变化电流转换为电压,输出一变化电压;以及一电压放大电路,用以接收并放大该变化电压,以输出该灰阶影像变化値。8.如申请专利范围第2项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该侦测模组之该灰阶影像变化値量测单元所量测该显示器之该第三部份,系为该显示器面板之最右侧的三分之一范围。9.如申请专利范围第2项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该侦测模组之该比例电路,系为一串联电阻电路,其中包括:一第一电阻,该第一电阻之一第一端耦接该灰阶影像初始値量测单元之该输出端,该第一电阻之一第二端输出一计数结束値;一第二电阻,该第二电阻之一第一端耦接该第一电阻之该第二端,该第二电阻之一第二端输出一计数开始値;以及一第三电阻,该第三电阻之一第一端耦接该第二电阻之该第二端,该第三电阻之一第二端耦接该灰阶影像最终値量测单元之该输出端。10.如申请专利范围第9项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该侦测模组之该比例电路中,该串联电阻电路之该第一电阻、该第二电阻以及该第三电阻之电阻比値为1:8:1。11.如申请专利范围第2项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该比例电路输出之该计数开始値,为该灰阶影像初始値减去该灰阶影像最终値后,乘以百分之十,再加上该灰阶影像初始値。12.如申请专利范围第2项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该比例电路输出之该计数结束値,为该灰阶影像初始値减去该灰阶影像最终値后,乘以百分之九十,再加上该灰阶影像初始値。13.如申请专利范围第2项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该侦测模组之该比较电路包括:一第一比较器,用以接收该灰阶影像变化値及该计数结束値,当该灰阶影像变化値大于该计数结束値时,该第一比较器之一输出讯号会进行讯号转态;以及一第二比较器,用以接收该灰阶影像变化値及该计数开始値,当该灰阶影像变化値大于该计数开始値时,该第二比较器之一输出讯号会进行讯号转态。14.如申请专利范围第13项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该侦测模组之该比较电路之该第一比较器,系为一运算放大器,具有一正输入端、一负输入端以及一输出端,该正输入端用以接收该灰阶影像变化値,该负输入端用以接收该计数结束値,该输出端用以输出该第一比较讯号。15.如申请专利范围第13项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该侦测模组之该比较电路之该第二比较器,系为一运算放大器,具有一正输入端、一负输入端以及一输出端,该负输入端用以接收该灰阶影像变换値,该正输入端用以接收该计数开始値,该输出端用以输出该第二比较讯号。16.如申请专利范围第1项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该控制模组接收该侦测模组之该比较电路所输出之该第一比较讯号及该第二比较讯号,其中该控制模组包括:一反应时间计数单元,用以接收并计算该第一比较讯号及该第二比较讯号之时间差,以输出该光反应时间;一系数存取单元,用以接收并储存该光反应时间;一图像产生单元,用以改变一测试灰阶影像;以及一状态控制单元,耦接该图像产生单元及该系数存取单元,用以控制该系统之运作流程,以形成一自动量测回路。17.如申请专利范围第16项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该控制模组之该反应时间计数单元包括:一逻辑闸,用以利用比较该第一比较讯号及该第二比较讯号,输出一计数判断讯号;以及一光反应时间计数器,用以利用该计数判断讯号转态之时间差,计算该显示器之该光反应时间。18.如申请专利范围第16项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该控制模组之该系数储存单元,系以一EEROM储存该光反应时间。19.如申请专利范围第16项所述之自动量测光反应时间之系统,其中该控制模组之该图像产生电路,系产生该测试灰阶影像至该显示器,以使该显示器之该第一部份显示该测试灰阶影像之最初始影像、该第二部份显示该测试灰阶影像之最终影像,以及该第三部份显示该测试灰阶影像之变化过程。20.一种自动量测光反应时间之量测方法,适用于量测并储存一显示器之光反应时间,并形成一自动量测回路,该量测方法步骤包括:传送一灰阶影像至该显示器,使该显示器之一第一部份显示该灰阶影像之初始灰阶影像,该显示器之一第二部份显示该灰阶影像之最终灰阶影像,该显示器之一第三部份显示该灰阶影像之变换过程;同时利用三个光感应元件分别感测该显示器之该第一部份、该第二部份、以及该第三部份的光感应讯号;将三个光感应讯号分别转换为电压讯号,进行比较运算,以计算出一光反应时间;储存该光反应时间;以及改变该显示器的该灰阶影像,以继续量测改变后之该显示器的该灰阶影像之该光反应时间。图式简单说明:第1图绘示依照本发明所提出之较佳实施例之自动量测光反应时间之系统之方块图。第2图绘示依照本发明所提出之较佳实施例之自动量测光反应时间之系统之侦测模组及反应时间计数单元之电路图。第3图绘示依照本发明所提出之较佳实施例之自动量测光反应时间之系统之光感应元件之摆设位置图。第4图绘示依照本发明所提出之自动量测光反应时间之量测方法之流程图。
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