| 发明名称 |
Schneller Testmustergenerator |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE4446988(B4) |
申请公布日期 |
2005.06.09 |
| 申请号 |
DE19944446988 |
申请日期 |
1994.12.28 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO |
发明人 |
TAKANO, KAZUO |
| 分类号 |
G01R31/3183;G01R31/3181;G01R31/319;(IPC1-7):G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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