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发明名称
选择空白先罩基材的方法
摘要
选择空白光罩基材以用于一制程中,在制程中,至少光罩膜或相位偏移膜被沈积于空白光罩基材的上表面上以形成光罩,沈积的膜被图型化以形成光罩,以及光罩被安装于曝光工具中。藉由下述步骤以选取基材:模拟膜沈积于基材上表面上之前至光罩安装于曝光工具时基材上表面的形状变化;决定光罩安装于曝光工具中时将赋予上表面平坦形状的改变之前的基材上表面的形状;以及,选取具有此表面形状之基材作为可接受的基材。所选取的基材具有最佳化的上表面形状,增进光罩制造之生产力。
申请公布号
TW200517263
申请公布日期
2005.06.01
申请号
TW093121955
申请日期
2004.07.22
申请人
信越化学工业股份有限公司;尼康股份有限公司
发明人
中津正幸;沼波恒夫;茂木均之;萩原恒幸;近藤尚人
分类号
B32B9/00;B32B17/06
主分类号
B32B9/00
代理机构
代理人
林志刚
主权项
地址
日本
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