| 摘要 |
"MATRIZ DE AMOSTRA PARA ESPECTROSCOPIA NO INFRAVERMELHO". A utilização do portador de amostra desta invenção em espectroscopia no infravermelho supera alguns dos grandes problemas tipicamente encontrados com os portadores de amostra utilizados nas técnicas tradicionais. Mais especificamente, a utilização do portador de amostra desta invenção elimina as franjas de interferência tipicamente encontradas com filmes que são preparados da amostra. A preparação de amostra tradicional é freq³entemente um processo de etapas múltiplas altamente intenso em mão-de-obra. A presente invenção oferece um avanço significativo no estado da preparação da amostra, em virtude de ser uma técnica simples e robusta, requerendo relativamente pouca mão-de-obra, em uma etapa fácil única. Algumas vezes, há um desejo de procurar o espectro no infravermelho de amostras que não formam filme. O portador de amostra da presente invenção pode ser usado igualmente bem com amostras que não formam filmes sólidos, tais como materiais cristalinos, óleos e materiais sólidos amorfos de baixo peso molecular. A presente invenção descreve mais especificamente um espectrómetro de infravermelho, que inclui (1) uma fonte de infravermelho, (2) uma disposição óptica, (3) um detector de infravermelho e (4) um meio para registrar espectro transmitido por uma faixa de números de onda; o aperfeiçoamento que compreende o espectrómetro de infravermelho incluindo um portador de amostra, que é compreendido de uma malha que é opaca ou totalmente transparente à luz infravermelha, em que o tamanho da malha está dentro da faixa de cerca de 200 a cerca de 700 (em que os furos na malha têm um tamanho mínimo que é suficiente para permitir que partículas tendo um tamanho de partícula inferior a 25 mícrons (<109>m) passem pela malha e um tamanho máximo que vai reter as partículas tendo um tamanho de partícula superior a 841 mícrons). |
