发明名称 APPARATUS AND METHOD FOR TESTING LOGIC DEVICES, CAPABLE OF ACCURATELY VERIFYING CHARACTERISTICS OF LOGIC DEVICES
摘要
申请公布号 KR100492994(B1) 申请公布日期 2005.05.25
申请号 KR19970077794 申请日期 1997.12.30
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 JANG, DONG SIK;CHOI, U SEONG
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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