| 主权项 |
1.一种矽智财(IP)元件之特性测试方法,包括下列步骤:提供一矽智财元件;依照该矽智财元件中所有多数个路径(path)自动产生多数个测试样本;使用并逐一输入该些测试样本至该矽智财元件以进行模拟,以输出对应之多数个模拟结果;以及依据该些模拟结果产生该矽智财元件之一矽智财元件特性资料库。2.如申请专利范围第1项所述之矽智财(IP)元件之特性测试方法,其中依照该矽智财元件中所有该些路径自动产生该些测试样本之步骤包括:自动搜寻该矽智财元件中所有该些路径;以及针对每一该些路径产生对应之该些测试样本。3.如申请专利范围第2项所述之矽智财(IP)元件之特性测试方法,其中自动搜寻该矽智财元件中所有该些路径之步骤包括:辨识并排除静电放电(ESD)路径;当尚有未完成搜寻之至少一路径点时,从中选择该路径点;判断所选择之该路径点之该些路径其中之一是否已至路径端点;依一电晶体规则选择电晶体连接端以搜寻所选择之该路径点之该些路径其中之一应连接之下一路径点;以及依一电阻规则选择电阻连接端以搜寻所选择之该路径点之该些路径其中之一应连接之下一路径点。4.如申请专利范围第3项所述之矽智财(IP)元件之特性测试方法,其中自动搜寻该矽智财元件中所有该些路径之步骤更包括:分析该矽智财元件中所有多数个输出入埠之型态;以及比对该矽智财元件之该些输出入埠与一资料库之输出入埠资讯。5.如申请专利范围第4项所述之矽智财(IP)元件之特性测试方法,其中该些输出入埠之型态包括输入埠、输出埠以及双向埠。6.如申请专利范围第3项所述之矽智财(IP)元件之特性测试方法,其中自动搜寻该矽智财元件中所有该些路径之步骤更包括排除自该矽智财元件之任何多数个输出入埠输入/输出而未经过该矽智财元件中任何电路之路径。7.如申请专利范围第1项所述之矽智财(IP)元件之特性测试方法,其中依据该些模拟结果产生该矽智财元件之该矽智财元件特性资料库之步骤包括:分别自每一该些模拟结果撷取至少一关键资料;以及滙整每一该些模拟结果之该关键资料,产生该矽智财元件特性资料库。8.如申请专利范围第1项所述之矽智财(IP)元件之特性测试方法,其中该矽智财元件特性资料库包括对应于该些测试样本之多数个时序资料以及多数个功率资料。9.如申请专利范围第1项所述之矽智财(IP)元件之特性测试方法,其中该矽智财元件系以一硬体描述语言(HDL)建构之。10.一种矽智财(IP)元件之搜寻路径方法,包括下列步骤:提供一矽智财元件;辨识并排除静电放电(ESD)路径;当尚有未完成搜寻之至少一路径点时,从中选择该路径点;判断所选择之该路径点之多数个路径其中之一是否已至路径端点;依一电晶体规则选择电晶体连接端以搜寻所选择之该路径点之该些路径其中之一应连接之下一路径点;以及依一电阻规则选择电阻连接端以搜寻所选择之该路径点之该些路径其中之一应连接之下一路径点。11.如申请专利范围第10项所述之矽智财(IP)元件之搜寻路径方法,更包括:分析该矽智财元件中所有多数个输出入埠之型态;以及比对该矽智财元件之该些输出入埠与一资料库之输出入埠资讯。12.如申请专利范围第11项所述之矽智财(IP)元件之搜寻路径方法,其中该些输出入埠之型态包括输入埠、输出埠以及双向埠。13.如申请专利范围第10项所述之矽智财(IP)元件之搜寻路径方法,更包括排除自该矽智财元件之任何多数个输出入埠输入/输出而未经过该矽智财元件中任何电路之路径。14.如申请专利范围第10项所述之矽智财(IP)元件之搜寻路径方法,其中该矽智财元件系以一硬体描述语言(HDL)建构之。15.一种电脑可读取记录媒体,用以储存可执行于一电脑系统的一程式,该程式包括下列指令:读取一矽智财元件;依照该矽智财元件中所有多数个路径(path)自动产生多数个测试样本;使用并逐一读取该些测试样本以对该矽智财元件进行模拟,并且产生对应之多数个模拟结果;以及依据该些模拟结果产生该矽智财元件之一矽智财元件特性资料库。16.如申请专利范围第15项所述之电脑可读取记录媒体,其中依照该矽智财元件中所有该些路径自动产生该些测试样本之指令包括下列指令:自动搜寻该矽智财元件中所有该些路径;以及针对每一该些路径产生对应之该些测试样本。17.如申请专利范围第16项所述之电脑可读取记录媒体,其中自动搜寻该矽智财元件中所有该些路径之指令包括下列指令:辨识并排除静电放电(ESD)路径;当尚有未完成搜寻之至少一路径点时,从中选择该路径点;判断所选择之该路径点之该些路径其中之一是否已至路径端点;依一电晶体规则选择电晶体连接端以搜寻所选择之该路径点之该些路径其中之一应连接之下一路径点;以及依一电阻规则选择电阻连接端以搜寻所选择之该路径点之该些路径其中之一应连接之下一路径点。18.如申请专利范围第17项所述之电脑可读取记录媒体,其中自动搜寻该矽智财元件中所有该些路径之指令更包括下列指令:分析该矽智财元件中所有多数个输出入埠之型态;以及比对该矽智财元件之该些输出入埠与一资料库之输出入埠资讯。19.如申请专利范围第18项所述之电脑可读取记录媒体,其中该些输出入埠之型态包括输入埠、输出埠以及双向埠。20.如申请专利范围第17项所述之电脑可读取记录媒体,其中自动搜寻该矽智财元件中所有该些路径之指令中更包括排除自该矽智财元件之任何多数个输出入埠输入/输出而未经过该矽智财元件中任何电路之路径。21.如申请专利范围第15项所述之电脑可读取记录媒体,其中依据该些模拟结果产生该矽智财元件之该矽智财元件特性资料库之指令包括:分别自每一该些模拟结果撷取至少一关键资料;以及滙整每一该些模拟结果之该关键资料,产生该矽智财元件特性资料库。22.如申请专利范围第15项所述之电脑可读取记录媒体,其中该矽智财元件特性资料库包括对应于该些测试样本之多数个时序资料以及多数个功率资料。23.如申请专利范围第15项所述之电脑可读取记录媒体,其中该矽智财元件系以一硬体描述语言(HDL)建构之。图式简单说明:图1是依照本发明一较佳实施例绘示的一种矽智财(IP)元件之特性测试方法流程图。图2是依照本发明较佳实施例绘示的一种矽智财(IP)元件之搜寻路径方法流程图。 |
