发明名称 | 快闪记忆体结构及其制作方法 | ||
摘要 | 首先提供一具有一P型浅掺杂区之基底,并于基底表面形成至少一堆叠闸极,且堆叠闸极包含有一隧穿氧化层、一浮动闸极、一ONO层及一控制闸极,接着于堆叠闸极侧边之基底中形成一P型深掺杂区,随后氧化浮动闸极与控制闸极之边缘部分,以形成一圆弧型绝缘阻障层,最后再于堆叠闸极两侧之基底中形成一汲极与一源极。 | ||
申请公布号 | TW200516722 | 申请公布日期 | 2005.05.16 |
申请号 | TW092130992 | 申请日期 | 2003.11.05 |
申请人 | 力晶半导体股份有限公司 | 发明人 | 王进忠;杜建志;宋达;洪至伟;黄明山 |
分类号 | H01L21/8247 | 主分类号 | H01L21/8247 |
代理机构 | 代理人 | 许锺迪 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行一路12号 |